DIN EN 60843-4-2000 使用8mm磁带的螺旋扫描盒式磁带录像系统;第4部分:视频子代码
时间:2024-04-28 11:41:59 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：8026
【英文标准名称】:Helical-scanvideotapecassettesystemusing8mmmagnetictape(8mmvideo)-Part4:Videosubcode(VSC)(IEC60843-4:2000);GermanversionEN60843-4:2000
【原文标准名称】:使用8mm磁带的螺旋扫描盒式磁带录像系统;第4部分:视频子代码
【标准号】:DINEN60843-4-2000
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2000-10
【实施或试行日期】:2000-10-01
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:盒式磁带;磁带录像机;特性;记录设备;互换性;视频设备;录像磁带;磁带;记录媒体;规范;规范(验收);视频;螺旋扫描记录(法);汇编;录音;视频记录;电气工程;编码;记录工程;可置换性
【英文主题词】:
【摘要】:ThedocumentspecifiesamethodofauxiliarydatarecordingandplaybackwiththeIEC608438mmvideosystem.Itisapplicabletoboth525line,60fieldand625line,50fieldtelevisionsystems.
【中国标准分类号】:M71
【国际标准分类号】:33_160_40
【页数】:21P;A4
【正文语种】:德语
【英文标准名称】:Packaging-Child-resistantpackaging-Requirementsandtestingproceduresfornon-reclosablepackagesfornon-pharmaceuticalproducts.
【原文标准名称】:包装.防儿童的包装.非药物产品用不能再次封闭的包装件的要求和检验程序
【标准号】:NFH00-202-2001
【标准状态】:作废
【国别】:法国
【发布日期】:2001-12-01
【实施或试行日期】:2001-12-20
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:事故预防;儿童保护设备;安全要求;安全;定义;定义;;保护儿童安全的;儿童;可伸缩包装;规范(验收);包装;包装件;试验
【英文主题词】:Accidentprevention;Childproof;Childproofequipment;Children;Definition;Definitions;Expendablepackings;Non-reclosable;Packages;Packaging;Safety;Safetyrequirements;Specification(approval);Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:A80
【国际标准分类号】:55_020;97_190
【页数】:28P;A4
【正文语种】:其他
【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods
【原文标准名称】:半导体装置.机械和气候试验方法
【标准号】:BSEN60749-1999
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1999-04-15
【实施或试行日期】:1999-04-15
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:燃烧试验;振动试验;湿热试验;低压试验;质谱学;胶接;试验设备;漏泄试验;机械试验;拨拉试验;试样制备;尺寸测量;储存;集成电路;电子设备及元件;易燃性;电气试验;试样;剪切试验;接线端;分类系统;耐久试验;放射性示踪法;试验条件;扭转试验;温度测量;加速度试验;外观检查(试验);潮气测量;软钎焊性试验;材料强度;应力;缺陷;半导体器件;温度冲击试验;热试验;作标记;环境试验;缺陷与故障
【英文主题词】:components;heat;integratedcircuits;atmosphericpressure;electronicequipmentandcomponents;climatictests;tightness;resistance;semiconductors;temperature;electricalmeasurement;semiconductordevices;dimensions;environment;testing;environmentaltesting;electronicengineering;flammability;electricalengineering;changesoftemperature;climate;visualinspection(testing);mechanicaltesting;moisture;environmentaltests
【摘要】:Uniformpreferredtestmethodsandvaluesforstresslevelsforjudgingtheenvironmentalpropertiesofsemiconductordevices(discreteandintegratedcircuits)fromwhichaselectionmaybemade.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:56P.;A4
【正文语种】:英语