JIS K5101-15-1-2004 颜料试验方法.第15部分:加热损耗.第1节:105℃下的挥发物质
时间:2024-05-13 09:37:35 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：9976
【英文标准名称】:Testmethodsforpigments--Part15:Lossonheating--Section1:Volatilematterat105degreeC
【原文标准名称】:颜料试验方法.第15部分:加热损耗.第1节:105℃下的挥发物质
【标准号】:JISK5101-15-1-2004
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:2004-02-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonChemicalProducts
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:この規格は,顔料及び体質顔料の温度105℃で揮発する物質を質量分率(%)で求める一般試験方法について規定する。この方法は,105℃で安定な顔料及び体質顔料に適用できる。
【中国标准分类号】:G53
【国际标准分类号】:87_060_10
【页数】:6P;A4
【正文语种】:日语
【英文标准名称】:Methodsoftestforspicesandcondiments;determinationofmoistureandvolatilematter,ovendryingmethodformustardseedandsaffron
【原文标准名称】:香料和调料的检验.水含量和挥发成份的测定.芥籽和番红花的烘炉法
【标准号】:DIN10221Bb.1-1968
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:
基本信息
| 标准名称： | 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 |
| 英文名称： | Semiconductor devices --Integrated circuits Part 2:Digital integrated circuits |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术 >>
微电路 >>
微电路综合 |
| ICS分类： |
电子学 >>
集成电路、微电子学
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| 替代情况： | SJ/Z 9015.2-1987 |
| 发布部门： | 国家质量技术监督局 |
| 发布日期： | 1998-01-01 |
| 实施日期： | 1999-06-01 |
| 首发日期： | 1998-11-17 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 归口单位： | 全国半导体器件标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 电子工业部标准化研究所 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2004-04-12 |
| 页数： | 【胶订-大印张】平装16开， 页数：131， 字数：252千字 |
| 书号： | 155066.1-15949 |
适用范围
本标准给出了下列各类或各分类器件的标准：——组合和时序数字电路；——存储器集成电路；——微处理器集成电路；——电荷转移器件。
前言
没有内容
目录
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引用标准
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所属分类： 电子元器件与信息技术 微电路 微电路综合 电子学 集成电路 微电子学